Workshop "Energiová filtrace v rastrovací elektronové mikroskopii"

Ve dnech 11. 9. až 13. 9. 2017 se uskuteční mezinárodní workshop na téma “Energiová filtrace v rastrovací elektronové mikroskopii“. Organizátorem akce je Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i., který bude hostit významné vědecké kapacity.
V rámci zahajovacího dne (11.9.) jsou plánovány v přednáškovém sále ÚPT dvě plenární přednášky renomovaných vědců na danou tématiku ze zahraničních univerzit.
11:00 dr. Cornelia Rodenburg z University of Sheffield, představí téma “Novel insights to organic and  inorganic-organic hybrid materials by Secondary Electron Hyperspectral Imaging“.
11:45 přestávka
12:00 dr. Anjam Khursheed z University of Singapore pak přednese na téma „Add-on Secondary Electron Analyzer attachments for the SEM“.
„Energiová filtrace v rastrovací elektronové mikroskopii je téma velmi aktuální, protože aplikace této metody umožňují získat nové, užitečné informace o zkoumaných vzorcích. Těmi jsou dnes především v průmyslu hojně využívané dopované polovodičové struktury, nebo hybridní polymery, které nacházejí široké využití ve všech oblastech života, a to od výkonných lehkých baterií, přes inovativní průmyslové a konstrukční materiály, až po bioimplantáty. Při jejich výrobě lze použitím vhodné diagnostické metody zefektivnit výrobní proces a zlepšit tak jejich vlastnosti. Partneři workshopu patří v oboru diagnostických metod ke světové špičce. V rámci setkání budou společně diskutovat problematiku chování signálních elektronů vznikajících ve vzorku, měření jejich energiových spekter a jejich srovnání s Monte Carlo simulací. Jedním ze stěžejních témat bude i interpretace kontrastu vzniklého v obraze po sejmutí série energiově filtrovaných snímků.“  Vysvětluje dr. Filip Mika, z Oddělení Elektronové mikroskopie, ÚPT AV ČR, který je zároveň koordinátor třídenního setkání.
Mezinárodní workshop je realizován za podpory projektu Strategie AV21, výzkumný program „Diagnostické metody a techniky“.