Nacházíte se

Tenké vrstvy a nano-charakterizace [J. Kočka, A. Fejfar]

Hlavním zaměřením laboratoře je plazmochemická příprava nanostruktur a tenkých vrstev na bázi Si, zejména mikro- a nano-krystalického křemíku (μc-Si:H, nc-Si:H). Pro optimalizaci vlastností je nezbytná komplexní charakterizace jejich vlastností na makroskopické i nano-úrovni pomocí kombinovaných měření AFM. Významným cílem je využití těchto materiálů pro fotovoltaickou přeměnu sluneční energie.


www stránky: Tenké vrstvy a nano-charakterizace