Nacházíte se

Domů » Oddělení tenkých vrstev a nanostruktur

Electrical characterization of semiconductor nanostructures by scanning probe microscopy based techniques

Seminář
Úterý, 21.09.2010 14:00 - 15:00

Přednášející: Igor Beinik (Institut of Physics, Montanuniversität Leoben, Austria)
Místo: Fyzikální ústav AVČR, Cukrovarnická 10, knihovna, budova A
Jazyk: anglicky
Pořadatelé: Oddělení tenkých vrstev a nanostruktur
Přílohy: 
PDF icon seminar_-_Beinik.pdf