Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS): A Success Story for All Kind of Applications in Surface and Interface Analysis
Seminář
Pondělí, 07.12.2015 13:00 - 14:00
Přednášející: Markus Terhorst (ION-TOF GmbH, Münster, Germany) Místo: Library of the Institute of Physics CAS, Cukrovarnicka 10, Praha 6 Jazyk: anglicky Pořadatelé:Oddělení optických materiálů