Oddělení materiálové analýzy

Náplň činnosti oddělení v  současné době prochází přerodem z vývoje, přípravy a charakterizací strukturních kovových materiálů na podporu širokého spektra všech výzkumných skupin ústavu v oblasti charakterizace materiálů.

Zabývá se charakterizací materiálů metodami rtg. difrakce (práškové i monokrystalové) a  rtg. reflektivity a  elektronové mikroskopie (transmisní i  řádkovací). Dále se věnuje provozování a  podpoře nákladné výzkumné infrastruktury (elektronové mikroskopy, rtg. difraktometry), která je přístupná i  ostatním výzkumným týmům, a  zabývá se školením jejich členů pro práci s těmito zařízeními a  podporou jejich výzkumu.

Výzkumné skupiny

Oddělení sestává ze dvou celoústavních laboratoří:

• Laboratoř ROTAN provozuje rentgenové difraktometry a zabývá se úlohami charakterizace materiálů pomocí rtg. difrakce a reflektivity. Základními službami, které nabízí ústavním výzkumným týmům, jsou
  • fázová analýza,
  • charakterizace tenkých epitaxních vrstev (tloušťky, misfit, stupeň relaxace),
  • určení orientace a orientování monokrystalů,
  • upřesňování struktury z prášků,
  • strukturní fázové přechody od -100°C do +2000°C
  a další pokročilejší metody podle možností, které charakter dodaných vzorků dovolí.



• Laboratoř elektronové mikroskopie (LEM) provozuje transmisní a skenovací elektronové mikroskopy s širokým spektrem analytických metod (např. EDX, EBSD, nanoindentace, Ga-FIB, HRTEM, SAED, NBD, CBED, EFTEM, EELS, Lorentzovská mikroskopie, in-situ TEM). Dále je v laboratoři k dispozici vybavení pro přípravu vzorků včetně iontového a elektrolytického leptání, případně Ga-FIB. LEM se zabývá se charakterizací materiálů na nanometrovém měřítku. Základními službami, které nabízí ústavním výzkumným týmům, jsou
  • morfologická analýza (SEM, TEM),
  • fázová analýza / analýza krystalografické orientace (SEM/EBSD),
  • testování mechanických vlastností (SEM-nanoindentace),
  • fázová analýza a morfologie jednotlivých fází (TEM/EDX/ED/EELS),
  • zobrazení s atomárním rozlišením (HRTEM),
  • in-situ mikroskopie (zahřívání, deformace).

Bývalá součást oddělení, Skupina objemových nanomateriálů a rozhraní se v současné době přesouvá do Oddělení funkčních materiálů.