Rastrovací mikroskopy a vlastnosti nanostruktur

Akademie věd České republiky, 28.12.2017.

Metoda, kterou vypracoval Pavel Jelínek a jeho kolegové z Fyzikálního ústavu AV ČR ve spolupráci s japonskými vědci, přináší nový pohled na popis chemických vlastností prvků. Díky ní lze pomocí nejmodernějších rastrovacích mikroskopů pozorovat nejen jednotlivé atomy na povrchu pevných látek, ale také měřit jejich schopnost přitahovat elektrony, tedy jejich elektronegativitu.

Celý článek na webu Akademie věd ČR.