Nacházíte se

Domů » Oddělení optických materiálů

Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS): A Success Story for All Kind of Applications in Surface and Interface Analysis

Seminář
Pondělí, 07.12.2015 13:00 - 14:00

Přednášející: Markus Terhorst (ION-TOF GmbH, Münster, Germany)
Místo: Library of the Institute of Physics CAS, Cukrovarnicka 10, Praha 6
Jazyk: anglicky
Pořadatelé: Oddělení optických materiálů
Přílohy: 
PDF icon Abstract