Elektronový rastrovací mikroskop JSM-6700F s ultravysokým rozlišením – nástroj pro sledování nanomateriálů a nanostruktur.
Je vhodný pro pozorování jemných struktur, jako jsou multivrstvé povlaky a nanočástice produkované nanotechnologiemi. Díky režimu velmi pomalých elektronů je vhodný i pro pozorování nevodivých vzorků.