Electrical characterization of semiconductor nanostructures by scanning probe microscopy based techniques
Seminář
Úterý, 21.09.2010 14:00 - 15:00
Přednášející: Igor Beinik (Institut of Physics, Montanuniversität Leoben, Austria) Místo: Fyzikální ústav AVČR, Cukrovarnická 10, knihovna, budova A Jazyk: anglicky Pořadatelé:Oddělení tenkých vrstev a nanostruktur