Připravujeme pro vás nový web FZÚ. Pomozte nám vyplněním krátkého dotazníku. » Vyplnit dotazník

Nacházíte se

Domů

Pokročilá charakterizace povrchů a nanostruktur s atomárním rozlišením pomocí rastrovacích mikroskopů

Seminář
Středa, 07.03.2012 15:00 - 16:00

Přednášející: Ing. Pavel Jelínek, Ph.D. (Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.)
Místo: Přednáškový sál FZÚ, Pod vodárenskou věží 1, Praha 8
Jazyk: česky
Pořadatelé: FZÚ AV ČR

Významnou roli při charakterizaci a modifikaci povrchů pevných látek hrají rastrovací mikroskopy. Poslední vývoj v této oblasti umožňuje kombinaci rastrovacího tunelovacího mikroskopu (STM) s mikroskopem atomárních sil (AFM). Možnost souběžné detekce atomárních sil a tunelovacího proudu umožňuje zcela nové možnosti charakterizovat s atomárních rozlišením povrchy a nanostruktury. Správná interpretace dat získaných tímto komplexním měřením vyžaduje pokročilou teoretickou analýzu.

V rámci přednášky představíme základní principy a problémy souběžné detekce atomárních sil a tunelovacího proudu. Následně budeme diskutovat na základě kombinace AFM/STM měření a teoretické analýzy

  • chemické složení komplexních 1D nanostruktur,
  • diskriminaci jednoduchých molekul na površích polovodičů,
  • vztah mezi tunelovacím proudem a chemickou vazebnou silou.
Na závěr představíme další možnosti využití rastrovacích mikroskopů pro pokročilé studium fyzikálních a chemických procesů na atomární úrovni.