Nacházíte se

Domů

Významné výsledky oddělení 26

Nanokrystalizace křemíku pomocí AFM

Hledáme alternativní cestu přípravy Si nanokrystalů, a to krystalizací amorfního křemíku pomocí ostrého hrotu v mikroskopu atomárních sil (AFM). Na předem daných místech v tenké vrstvě amorfního křemíku vytvoří procházející elektrický proud mikroskopické prohlubně s vysokou elektrickou vodivostí. Tato vysoká vodivost je připisována vzniku křemíkových krystalů. Celý text »

Nový vhled do atomárního rozlišení frekvenčně modulovaného Kelvinova mikroskopu atomárních sil

Mezinárodní tým vědců z Německa, Japonska a České republiky provedl sérii experimentálních měření podpořených počítačovými simulacemi, která dává hlubší vhled do původu atomárního kontrastu Kelvinova mikroskopu atomárních sil. Vědecký tým v této práci jednoznačně prokázal, že atomární kontrast není artefaktem měření, ale má svůj fyzikální původ. Byly provedeny komplexní počítačové simulace interakce hrotu rastrovacího mikroskopu s atomy na povrchu pevných látek a jejího vlivu na změnu rozložení hustoty elektronů na povrchu. Celý text »

Měření jednotlivých zrn v mikrokrystalickém křemíku

  1. topografie zrn měřená pomocí AFM
  2. současně měřená mapa lokální vodivosti. Přitom měříme proud tekoucího z hrotu AFM přes vzorek do spodní elektrody
Celý text »

Mapování vlastností tenkých vrstev pro sluneční články

Sluneční články založené na tenkých vrstvách dosahují několikrát rychlejší energetické návratnosti než běžné deskové články. Ročně se takových článků ve světě vyrobí již miliony m2. Nejlepší výsledky se čekají od nanostrukturních tenkých vrstev, tzv. mikrokrystalického nebo nanokrystalického křemíku, pro které ale potřebujeme najít nové metody pro měření vlastností s rozlišením až do oblasti nanometrů. Celý text »