Thompsonův-Lampardův elektrostatický teorém používaný v metrologii při realizaci vypočitatelných normálů kapacity a indukčnosti jsme využili k návrhu struktur vhodných pro měření specifických odporů plošných vzorků.
Námi navržená metoda, která je v jistém smyslu komplementární (duální) ke známé van der Pauwově metodě, umožňuje, na rozdíl od této, důslednou eliminaci parazitních svodů a je vhodná zejména pro měření vzorků s vysokým specifickým odporem.