NOVINKY.CZ, 1.10.2019.
Nová látka, tzv. nanokompozit, by mohla...
Vedoucí laboratoře: Michal Dušek
Hlavním experimentálním nástrojem je čtyřkruhový difraktometr Gemini s plošným detektorem Atlas, který slouží k zjišťování struktur monokrystalických látek metodou rentgenové difrakce. Tento moderní přístroj instalovaný na počátku roku 2008 se svojí senzitivitou a rychlostí sběru dat řadí k nejlepším přístrojům dané kategorie a umožňuje vyjímečně přesné měření satelitních reflexí aperiodických látek.
Celý text »Vedoucí laboratoře: Lukáš Palatinus
Precesní elektronová difrakce je nová metoda, která umožňuje stanovení atomární struktury krystalických mikrovzorků z elektronových difrakčních dat. Od klasické elektronové difrakce se liší tím, že elektronový svazek provádí precesní pohyb, který častečně ruší dynamické efekty difraktovaných intenzit. Celý text »
Vedoucí laboratoře: Jan Rohlíček
Rentgenová difrakce na práškových vzorcích se používá v celé řadě analytických metod, například pro fázovou analýzu, strukturní analýzu, studium tenkých vrstev, analýzu textur a výzkum nanomateriálů. Difrakční záznam vzniká jako superpozice nezávislých difrakcí na jednotlivých mikrokrystalech prášku. Zmíněné metody se liší geometrií experimentu a požadavky na přesnost a lze je zpravidla provozovat na jediném práškovém difraktometru, pokud jsou k dispozici vhodné nástavce. Celý text »
Vedoucí laboratoře: Karel Jurek
Laboratoř rastrovací elektronové mikroskopie a rentgenové mikroanalýzy je celoústavním servisním pracovištěm. Je vybavena elektronovým mikroanalyzátorem JXA-733 japonské firmy JEOL. Přístroj, jehož základem je rastrovací elektronový mikroskop (SEM-Scanning Electron Microscope), je vybaven třemi krystalovými "wavelength dispersive" rentgenovými spektrometry a jedním energeticky disperzním "energy dispersive" Si(Li) spektrometrem fy KEVEX (USA). Celý text »
Vedoucí laboratoře: Ivo Drbohlav
Servisní laboratoř mikroskopie atomárních sil (Atomic Force Microscopy) využívá mikroskop Explorer, Thermomicroscopes, USA. Pomocí tohoto přístroje se dají získat trojrozměrné informace o površích studovaných látek. Obraz se sestavuje bod po bodu pomocí detekce pohybu zkoumacího hrotu. Metoda je bezkontaktní, hrot a vzorek na sebe působí meziatomovou přitažlivostí (van der Waalsovými silami). Celý text »
Vedoucí laboratoře: Jiří Hybler
Některá fyzikální měření, zejména optická nebo magnetická, musí být prováděna na vzorcích zaujímající přesně danou krystalografickou orientaci, protože měřené vlastnosti jsou anisotropní (závislé na směru). Orientace takových vzorků se provádí v Laboratoři pro orientaci monokrystalů.
Celý text »