Laboratoř charakterizace nanostruktur

Vybavení:nano lab 1

  • mikroskop atomárních sil - AFM (MultimodeTM, Veeco, USA)
  • elipsometr (SE 850, Sentech, Německo)
  • optický profilometr (NewView7300, ZYGO, USA)

 

nano lab 2

ÚFE provádí základní a aplikovaný výzkum v oblasti fotoniky, optoelektroniky a elektroniky. ÚFE příspívá k rozvoji poznání v těchto oblastech a vytváří širokou bázi znalostí, jako základ pro vývoj nových špičkových technologií.

Kontakt

+420 266 773 400
ufe@ufe.cz
Datová schránka: m54nucy
IČ: 67985882
DIČ: CZ67985882