«JAN
FEB
MAR »
6
«2018
2020
2021 »
132 captures
5 Apr 14 - 4 Oct 24
Close
Help
Přejít k hlavnímu obsahu
Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v. v. i.
Čeština
English
Vyhledávání
Hledat
Domů
Ústav
Profil pracoviště
Struktura
Úspěchy
Publikace
Veřejné zakázky
Výroční zprávy
Zveřejňování rozpočtu a výhledu rozpočtu instituce
Informace ze zákona
GDPR
Výzkum
Optické biosenzory
Zaměření týmu
Pracovníci
Grantové projekty
Publikace
Patenty
Spolupráce
Laboratoře
Vláknové lasery a nelineární optika
Zaměření
Pracovníci
Grantové projekty
Publikace
Patenty
Spolupráce
Laboratoře
Příprava a charakterizace nanomateriálů
Zaměření
Pracovníci
Grantové projekty
Publikace
Spolupráce
Laboratoře
Bioelektrodynamika
Zaměření
Pracovníci
Grantové projekty
Publikace
Volné pozice
Spolupráce
Laboratoře
Nano-optika
Zaměření
Grantové projekty
Pracovníci
Volné pozice
Publikace
Laboratoře
Laboratoř Státního etalonu času a frekvence
Zaměření
Pracovníci
Grantové projekty
Publikace
Patenty
Spolupráce
Laboratoře
Veřejnost & Média
Aktuality
Tiskové zprávy
Média
Photogallery
Virtuální prohlídka laboratoří
Kariéra
Volné pozice
Studium
Otevřená věda, stáže
Kontakt
Intranet
Domů
→
Výzkum
→
Optické biosenzory
→
Laboratoře
→ Laboratoř charakterizace nanostruktur
Laboratoř charakterizace nanostruktur
Vybavení:
mikroskop atomárních sil - AFM (MultimodeTM, Veeco, USA)
elipsometr (SE 850, Sentech, Německo)
optický profilometr (NewView7300, ZYGO, USA)