Nacházíte se

Domů » Oddělení optických materiálů

TOF-SIMS model M6

Seminář
Středa, 19.02.2020 13:30

Přednášející: Dr. Matthiase Kleine-Boymanna (ION TOF, Germany)
Místo: Fyzikální ústav AV ČR, zasedací místnost u Knihovny, Cukrovarnická 10, Praha 6
Jazyk: angličtina
Pořadatelé: Oddělení optických materiálů
The M6 is the latest generation of high-end TOF-SIMS instruments developed by IONTOF. Its design guarantees superior performance in all fields of SIMS applications. New ground-breaking ion beam and mass analyser technoligies make the M6 the benchmark in SIMS instrumentation and the ideal tool for industrial and academic research.