Oddělení tenkých vrstev a nanostruktur

Základní tématem oddělení je fyzikální, chemická a strukturní nano-charakterizace pomocí unikátního komplexu měřicích metod (Omicron qPlus VT UHV AFM/STM, Veeco Nanoscope IV Dimension 3100 a NT-MDT NTEGRA AFM v kombinaci s mikrospektroskopií Ramanova rozptylu Renishaw inVia Reflex). Výzkum oddělení se soustřeďuje na témata řešená v rámci národních a mezinárodních projektů:

• příprava a charakterizace křemíkových nanostruktur a nanokrystalických tenkých vrstev
• charakterizace, modifikace atomární a elektronové struktury povrchů a nanostruktur, počítačové simulace nanostruktur a povrchů
• studium vodivosti v molekulárních kontaktech pomocí metody DFT-NEGF
• křemíkové nanostruktury se silnou fotoluminiscencí jakožto světelné zdroje pro nanofotoniku
• organicko-anorganické nanosystémy pro opto-elektroniku a bio-elektroniku

Podílíme se na těchto výzkumných, výukových a popularizačních aktivitách:

• Expertní a výukové centrum rastrovací sondové mikroskopie (SET-Center)
• Material Science Beamline (at Elettra)
• Vrtuální výzkumný centrum pro uhlíkové biomateriály a biorozhraní (CABIOM)
• Centrum nanotechnologií a materiálů pro nanoelektroniku
• Czech NanoTeam
• Mezinárodní letní škola Physics at Nanoscale

a další...