Činnost 

Zabývámm se fotoelektronovou mikroskopií­ (PEEM) a spektroskopií­ (XPS při 
excitaci rentgenovým zářením a UPS se zářením ultrafialovým) s použitím
přístroje NanoESCA na nejrůznějších materiálech. 
Ty musí­ být alespoň částečně vodivé a s hladkým povrchem, 
čemuž vyhovují­ kovy, polovodiče, tenké organické vrstvy a dokonce
i velmi tenké nevodivé vrstvy na vodivých 
podložkách. Také kombinuji mikroskopie se spektroskopií,
příkladem je úhlově rozlišitelná fotoemise (ARPES).

ORCID 0000-0003-4150-139X