Přednáška "LiteScope: Výhody in-situ 3D korelativní mikroskopie spojením AFM a SEM technik"

Dne 6. 3.2020 v 10:30h  proběhne v přednáškovém sále ÚPT seminář na téma
LiteScope: Výhody in-situ 3D korelativní mikroskopie spojením AFM a SEM technik

Téma přednese Ing. Jan Neuman, Ph.D., z brněnské firmy NenoVision, který představí výhody kombinace dvou komplementárních mikroskopických technik v oblasti nanotechnologií – mikroskopu atomárních sil (AFM) a skenovacího elektronového mikroskopu (SEM). Toto spojení je možné díky integraci kompaktního AFM mikroskopu LiteScope s vhodným elektronovým mikroskopem v jedno zařízení. Výhody korelativního AFM/SEM zobrazení jsou demonstrovány na vybraných aplikacích z oblasti nanotechnologií, materiálových věd a life-science. Dále se seminář věnuje výhodám kombinace korelativní AFM/SEM mikroskopie s dalšími integrovanými metodami SEM:  technika fokusovaného iontového svazku, elektronovým/iontovým svazkem řízená depozice, materiálová analýza založená na detekci rentgenového záření či vodivostní mikroskopie atd.