scan4surf - Metrologie pro kontinuální monitorování laserových strukturovacích systémů (projekt mezinárodní spolupráce evropského programu MNT-ERA-NET)

Poskytovatel: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR

Řešitel: Ing. Pavel Peterka, Ph.D.

Členi: Dr. Ing. Ivan Kašík; Ing. Ondřej Podrazký, Ph.D.; Ing. Filip Todorov, Ph.D.

Od: 2010-03-05

Do: 2012-12-31

Cílem evropského projektu scan4surf bylo vyvinout měřicí systém pro průmyslový laser, který obrábí přesné díly, např. formy pro lisování plastů v automobilovém nebo leteckém průmyslu. Tyto formy jsou velmi drahé a nepřesné zaostření výkonného laseru by mohlo celou formu neopravitelně poškodit. Měřicí systém bude zajišťovat i v průběhu obrábění bezdotykovou kontrolu vzdálenosti a přesné zaostření laserové obráběcí hlavy. Výhodou je, že měřicí paprsek interferometrického senzoru sdílí dráhu s paprskem laseru, který slouží pro vlastní mikrostrukturování. Koordinátory celého projektu byly německá firma Precitec (vedoucí světový výrobce laserových obráběcích a svařovacích hlav) a Fraunhoferův institut pro výrobní technologie. Na české straně byla koordinátorem firma Safibra a měli jsme za úkol vyvinout vhodný zdroj záření pro měřicí senzor. Jeden ze zdrojů byl na bázi optického vlákna dopovaného ytterbiem. Jeho výhodou je větší výkon než polovodičové LED diody.

Partneři z Německa:
Fraunhofer Institute for Production Technology, Aachen
Precitec Optronik GmbH, Rodgau
SCANLAB AG, Pucheim
ModuleWorks GmbH, Aachen
Werkzeugbau Siegfried Hofmann GmbH, Lichtenfels

Partneři z ČR:
Safibra, Říčany
ÚFE AV ČR, v.v.i., Praha
IMS s. r. o., Česká Třebová

Reference:

1. P. Peterka, F. Todorov, I. Kašík, V. Matějec, O. Podrazký, L. Šašek, G. Mallmann, R. Schmitt, "Wideband and high-power light sources for in-line interferometric diagnostics of laser structuring systems," Proc. SPIE 8697, p. 869718, 2012
2. R. Schmitt, G. Mallmann and P. Peterka, "Development of a FD-OCT for the inline process metrology in laser structuring system", Proc SPIE 8082, p. 808228, 2011, presented in conference SPIE Optical Metrology (collocated with LASER-World of Photonics), Munich, Germany, 23-26 May 2011.