Poskytovatel: Grantová agentura ČR
Řešitel: Ing. Jan Grym, Ph.D.
Od: 2008-01-01
Do: 2010-12-31
Vysoce čisté vrstvy InP byly připraveny metodou kapalné epitaxe s příměsí prvků vzácných zemin (RE) do růstové taveniny. RE v růstové tavenině getrují mělké příměsi. Přednostně jsou getrovány donorové příměsi. Při zvyšování obsahu RE v tavenině má přednostní getrování donorů za následek změnu vodivosti z typu n na typ p. Takto můžeme připravit vrstvy typu p s významně nižšími koncentracemi volných nosičů. Tyto vrstvy jsou vhodné pro přípravu Schottkyho kontaktů s vysokou výškou bariéry. Tlusté vrstvy typu p s kvalitními Schottkyho kontakty mohou nalézt využití ve strukturách pro detekci ionizujícího záření. Pochopení vzájemného vztahu mezi elektrickými a optickými měřeními a chemickou analýzou vrstev provedenou metodou SIMS napomůže stanovení dominantních příměsí a povede ke zlepšení technologie růstu. Byl podrobně popsán proces getrace spolu s vysvětlením změny vodivostního typu.
ÚFE provádí základní a aplikovaný výzkum v oblasti fotoniky, optoelektroniky a elektroniky. ÚFE příspívá k rozvoji poznání v těchto oblastech a vytváří širokou bázi znalostí, jako základ pro vývoj nových špičkových technologií.
+420 266 773 400
ufe@ufe.cz
Datová schránka: m54nucy
IČ: 67985882
DIČ: CZ67985882
