Kvantitativní nízkoenergiové 4D-STEM zobrazování radiačně citlivých vzorků

Tento projekt se zaměřuje na vývoj metody kvantitativního zobrazování pro rastrovací elektronovou mikroskopii (SEM), která bude založena na použití 2D pixelového detektoru v prozařovacím módu. Bude rozšířena technika měření tloušťky, která byla nedávno zavedena pro prstencový STEM detektor. Zároveň budou využity difraktivní techniky (typu ptychografie), které díky poskytnutí fázového kontrastu umožní znázornit velmi jemné detaily. Ačkoliv difraktivní techniky jsou již využívány v klasických STEM systémech, tým se zaměří na nižší energie využívané v SEM. Důraz bude kladen také na aplikace těchto metod pro vzorky, které jsou citlivé na ozáření elektronovým svazkem (většina biologických a polymerních vzorků). Proto budou hledány nejen techniky snímání 4D-dat s co nejmenším poškozením vzorku, ale také kryogenní techniky, které radiační poškození mohou potlačit. Součástí projektu je vývoj experimentálních aparatur a software, poté ověření metody na řadě vzorků.