Činnost

  • Analýza atomové a elektronové struktury povrchů metodami LEED I-V, XPS, PED, UPS
  • Stanovení optických vlastností povrchů pomocí REELS
  • Charakterizace nanokrystalických uhlíkových materiálů
  • Charakterizace polárních, semipolárních a nepolárních povrchů GaN
  • Charakterizace rozhraní heterostruktur pomocí HAXPES
  • Stanovení uspořádání elektronových pásů v heterostrukturách fotoelektronovou spektroskopií
  • Ab initio DFT výpočty atomové a elektronové struktury povrchů

ORCID: 0000-0003-0430-3706