Text
Na semináři budou prezentovány novinky z oblasti skenovací elektronové mikroskopie (SEM), EBSD techniky a přípravy vzorků pro EBSD pomocí leštění iontovým svazkem argonu. Představení EBSD systému pro extrémně citlivé materiály (nízkonapěťová analýza 7kV – 3kV). Novinky v oblasti softwaru pro zpracování EBSD dat a jejich vyhodnocení. Představení Laboratoře elektronové mikroskopie v oddělení 17 FZÚ AV ČR, včetně praktických ukázek nastavení SEM a EBSD detektoru pro různé typy materiálů. Diskuse a možnost konzultace s EBSD aplikačním specialistou.
Úplný program a časový harmonogram najdete v příloze. REGISTRACE POSÍLEJTE NA EMAIL: rudolf [dot] krentik [at] ametek [dot] com
Přednášky budou prezentovány v českém a anglickém jazyce!