PRACOVNI SKUPINA ELEKTRONOVYCH JEVU- EXPERIMENTALNI METODY A PRISTROJOVE VYBAVENI

Stejnosmerna a stridava elektricka vodivost a fotovodivost v teplotnim rozsahu 10 az 400 K. Fotoelektricka mereni ve spektralnim oboru 200 az 800 nm. Mereni kvantove ucinnosti fotogenerace nosicu naboje vysokoodporovych materialu metodou xerografickeho vybijeni. Mereni charakteristik organickych tenkovrstvych tranzistoru a solarnich clanku.

• Pristrojove vybaveni:

• Variabilni usporadani mericich pristroju (elektrometry a stabilizovane zdroje Keithley, stacionarni a pulzni svetelny zdroj s xenonovou vybojkou, 1/4 m monochromator Jobin Yvon, radiometr EG&G 580, heliova vysokovakuova nizkoteplotni aparatura s uzavrenym cyklem Displex firmy AirProducts).

Mereni driftove pohyblivosti nosicu elektrickeho naboje, pruletove charakteristiky, efekty prostoroveho elektrickeho naboje a zachytu nosicu naboje, mereni kvantove ucinnosti fotogenerace volnych nosicu naboje v polymernich tenkych vrstvach kinetickymi metodami s nanosekundovym casovym rozlisenim.

• Pristrojove vybaveni:

• NdYAG laser Surelite I a barvivovy laser ND-60 se dvema optickymi zdvojovaci firmy Continuum, sirka pulsu 3-6 ns, spektralni oblasti 550-770 nm a 270-370 nm, energie pulsu 1-5 mJ v UV oblasti, 30 mJ ve viditelne oblasti, 200 mJ pri 532 nm a 450 mJ pri 1064 nm, 10 Hz opakovaci frekvence s moznosti jednotlivych pulzu a externi synchronizaci.
• Jako zaznamova jednotka je pouzit digitalni pametovy osciloskop Hewlett-Packard 5410 B.

Mereni fotochromniho jevu a elektroluminiscence organickych materialu vcetne studia kinetik (s milisekundovym casovym rozlisenim) a teplotni zavislosti.

• Pristrojove vybaveni:

• Spektrofotometr UV-VIS s vysokocitlivou detekcni hlavou EG&G 585 a termostatem (Haake H40/F6), spektrometr pro mereni termostimulovane absorpce vlastni vyroby.

Mikrovlnna fotovodivost v polymerech, mereni kinetiky fotoindukovanych iontovych paru.

• Pristrojove vybaveni:

• Mikrovlnny zdroj v Ka-pasmu, detektor odrazene energie, NdYAG laser a barvivovy laser ND-60 (viz vyse).
• 
  

Priprava tenkych vrstev organickych materialu a vicevrstvych systemu slozenych z ruznych organickych materialu a kovu deponovanych ve vakuu, mereni tloustky kremennym oscilatorem, rotacni nanaseni z roztoku polymeru.

• Pristrojove vybaveni:

• Pristroj pro rotacni nanaseni, vysokovakuove naparovaci zazizeni, monitor tloustky s kremennym oscilatorem, profilometr.

Laserova ablace.

• Pristrojove vybaveni:

• Laser NdYAG Surelite firmy Continuum (viz vyse).