|
|
 |
|
|
|
|
| Laboratoø mikroskopie rastrovací sondou se v rámci oddìlení elektrochemických materiálù zabývá charakterizací nanostrukturovaných materiálù metodami mikroskopie atomárních sil (AFM), tunelové mikroskopie (STM) a metodami odvozenými (tunelová spektroskopie, silová spektroskopie) používanými in situ v kombinaci s elektrochemickými metodami. Cílem je nalezení vztahu mezi uspoøádáním (nanostrukturou) mezifází a prùbìhem reakce pøenosu náboje. |
|
| Tìžištìm naší práce jsou následující systémy: |
|
| soubory metalických a metaloxidových nanoèástic imobilizovaných na monokrystalických substrátech, jejich charakterizace mikroskopií AFM/STM ex situ a in situ v podmínkách reakce pøenosu náboje (s použitím elektrochemické mikroskopie EC AFM/STM a SECM) s dùrazem na specifické fyzikálnì chemické vlastnosti tìchto nanostruktur. Cílem je optimalizace jejich vlastností pro využití v (elektro)katalýze, zdrojích proudu, mikroelektronice a senzorech. |
|
| uhlíkové nanostruktury – fulereny, nanotrubky, grafen v reakcích pøenosu náboje |
|
| oxidické polovodièe na bázi TiO2, vliv nanostruktury, dopování a senzibilizace na konverzní úèinnost ve fotoelektrochemickém (Grätzelovì) solárním èlánku, kombinací metod EC STM/AFM a tunelové spektroskopie |
|
| cílenì syntetizované ftalocyaninové a porfyrinové deriváty (spolupráce s Tohoku University, Japonsko) – (spektro)elektrochemické vlastnosti a charakterizace - pro využití jako senzibilizátorù, v (elektro)katalýze, zdrojích proudu a senzorové technice |
|
|
|
|
|
|
|
|
English |
|
|
