|
![](images/spacer.gif) |
![](images/spacer.gif) |
![](images/spacer.gif) |
|
![](images/spacer.gif) |
Mikroskop rastrovací sondou Topometrix TMX 2010 a Nanoscope IIIa Multimode (Veeco) Veeco umožňující zobrazení povrchů pevných látek s rozlišením dosahujícím molekulární resp. atomární úrovně. Oba mikroskopy jsou vybaveny tunelovou mikroskopií (STM) v oblasti pikoampérových tunelových proudů, elektrochemickou mikroskopií (SECM) a mikroskopií atomárních sil (AFM) v kontaktním, semikontaktním režimu a v režimu laterálních sil. Umožňují práci v kapalinách a v elektrochemickém režimu ve spojení s čtyřelektrodovým potenciostatem. V rámci oddělení elektrochemických materiálů jsou k dispozici další techniky . | ![](images/microscope.JPG) |
![](images/spacer.gif) |
in situ SPM | ![](images/in_situ_SPM.jpg) |
![](images/spacer.gif) |
Tríelektrodový potenciostat/galvanostat (Wenking POS2, Bank Elektronik) pracující v oblasti potenciálů -5 až +5 V, s rychlostí vkládání potenciálu 0,1mV/s až 100V/s je používán v elektrochemických experimentech. | ![](images/potenciostat.JPG) |
![](images/spacer.gif) |
Potentiostat HEKA | ![](images/HEKA.jpg) |
![](images/spacer.gif) |
Generátor nanobublin | ![](images/nanobubble_generator.jpg) |
|
![](images/spacer.gif) |
|
![](images/spacer.gif) |
![](images/spacer.gif) |
![](images/spacer.gif) |
![](images/spacer.gif) |
![](images/spacer.gif) |
English |
|
|