|
|
 |
|
|
|
|
| Laboratoř mikroskopie rastrovací sondou se v rámci oddělení elektrochemických materiálů zabývá charakterizací nanostrukturovaných materiálů metodami mikroskopie atomárních sil (AFM), tunelové mikroskopie (STM) a metodami odvozenými (tunelová spektroskopie, silová spektroskopie) používanými in situ v kombinaci s elektrochemickými metodami. Cílem je nalezení vztahu mezi uspořádáním (nanostrukturou) mezifází a průběhem reakce přenosu náboje. |
|
| Těžištěm naší práce jsou následující systémy: |
|
| soubory metalických a metaloxidových nanočástic imobilizovaných na monokrystalických substrátech, jejich charakterizace mikroskopií AFM/STM ex situ a in situ v podmínkách reakce přenosu náboje (s použitím elektrochemické mikroskopie EC AFM/STM a SECM) s důrazem na specifické fyzikálně chemické vlastnosti těchto nanostruktur. Cílem je optimalizace jejich vlastností pro využití v (elektro)katalýze, zdrojích proudu, mikroelektronice a senzorech. |
|
| uhlíkové nanostruktury – fulereny, nanotrubky, grafen v reakcích přenosu náboje |
|
| oxidické polovodiče na bázi TiO2, vliv nanostruktury, dopování a senzibilizace na konverzní účinnost ve fotoelektrochemickém (Grätzelově) solárním článku, kombinací metod EC STM/AFM a tunelové spektroskopie |
|
| cíleně syntetizované ftalocyaninové a porfyrinové deriváty (spolupráce s Tohoku University, Japonsko) – (spektro)elektrochemické vlastnosti a charakterizace - pro využití jako senzibilizátorů, v (elektro)katalýze, zdrojích proudu a senzorové technice |
|
|
|
|
|
|
|
|
English |
|
|
