Databáze patentů

FZU nabízí k využití svoje portfolio českých a mezinárodních patentů. Patentové přihlášky jsou připravovány ústavním patentovým zástupcem, který působí jako český i evropský zástupce. Licence k využití průmyslových práv je obvykle poskytována jako nevýhradní, ovšem na základě individuálních jednání jsou možné i jiné formy. Licenční ujednání jsou zprostředkována skupina Transferu znalosti a technologií.

  1. P. Boháč, K. Cvrk, M. Veselský, J. Tomáštík, L. Jastrabík, V. Koula
    A measuring extension on sample holder for diagnostic equipment allowing to scan acoustic emission during scratch test
  2. P. Boháč, M. Veselský, K. Cvrk, J. Tomáštík, R. Čtvrtlík, L. Jastrabík, V. Koula
    The duralumin adapter to sample holder with an integrated sensor of acoustic emission generated by scratch test
  3. P. Boháč, M. Veselský, K. Cvrk, J. Tomáštík, R. Čtvrtlík, L. Jastrabík, V. Koula
    Measuring head for nanotester NT600, which allows the scanning of acoustic emission with increased sensitivity
  4. P. Boháč, M. Dráb, J. Tomáštík, R. Čtvrtlík
    Software utility “envelope”
  5. V. Jirásek, Š. Potocký, A. Sveshnikov
    GENERAL METHODOLOGY FOR HIGH TEMPERATURE PROCESSES OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY BY THE FINITE ELEMENT METHODS
  6. B. Rezek, A. Kromka, O. Babčenko, J. Libertínová, J. P. Conde, V. Chu, T. Schmiedinger
    Microfluidic system for electrical measurements
  7. P. Adámek, M. Čada, Z. Hubička, L. Jastrabík, Š. Kment, J. Olejníček
    A method of measurement synchronisation for plasma probe diagnostics and measuring system for conducting this method
  8. A. Hospodková, J. Pangrác, J. Oswald
    Gallium arsenide antimonite layer with graded composition for reducing strain in indium arsenide/gallium arsenide quantum dots
  9. K. Kůsová, O. Cibulka, K. Dohnalová, K. Žídek, A. Fučíková a I.Pelant
    Methods for the preparation of optically clear solutions of silicon nanocrystals with short-wavelength luminescence
  10. Z. Hubička, M. Čada, T. Kubart, P. Adámek, J. Olejníček, Š. Kment
    System for measurement of ion and neutral particles flux deposited onto substrate during thin film deposition process
  11. P. Adámek, M. Čada, Z. Hubička, Š. Kment, J. Olejníček
    Measuring system for microwave plasma diagnostics
  12. O. Churpita, A. Dejneka, V. Zablotskyy, Š. Kubinová, E. Syková
    Atmospheric plasma source for biomedical applications
  13. P. Adámek, M. Čada, Z. Hubička, Š. Kment, J. Olejníček
    Programmable system for monitoring and control of thin film deposition plasma systems
  14. P. Adámek, M. Čada, Z. Hubička, Š. Kment, J. Olejníček, P. Lukašík, A. Piják
    Acquisition system for time-resolved the Langmuir probe diagnostics of discharges
  15. P. Adámek, M. Čada, Z. Hubička, Š. Kment, P. Lukašík, J. Olejníček, A. Piják
    Programmable Dip-Coater for deposition of thin films in chemical solutions
  16. P. Adámek, M. Čada, Z. Hubička, L. Jastrabík
    Measuring system for microwave diagnostic of the plasma.
  17. P. Adámek, Z. Hubička, Š. Kment, M. Čada, L. Jastrabík
    Control and monitoring software for plasma depositon control system.
  18. Z. Hubička, M. Čada, P. Adámek, Š. Kment, J. Olejníček
    An apparatus for neutral and ion flux measurement on substrate in a low-temperature plasma
  19. H. Kozak, Z. Remeš, O. Babčenko, A. Kromka, M. Varga
    Multilayer optical system for detection of infrared spectra of functionalized diamond surfaces
  20. J. Wunderlich, T. Jungwirth, A. Irvine, J. Sinova
    Spin-polarised charge carrier device
  21. J. Bárta, V. Čuba, V. Múčka, M. Nikl, M. Pospíšil
    Process for preparing synthetic structures based on lutetium-aluminium garnet (LuAG))
  22. K. Kůsová, O. Cibulka, K. Dohnalová, K. Žídek, A. Fučíková, I. Pelant
    Method for the preparation of optically clear solution of silicon nanocrystals with short-wavelength luminescence
  23. P. Adámek, M. Čada, Z. Hubička, P. Virostko, L. Jastrabík, J. Olejníček, V. Straňák, R. Hippler, H. T. Do
    Diagnostics method for time-resolved laser absorption spectroscopy in pulsed plasmas and measuring system for the implementation of this diagnostics method.
  24. J. Wunderlich, T. Jungwirth, J. Zemen, B. Gallagher, C. Chappert, D. Thibaut
    Method of controlling a magnetoresistive device using an electric field pulse
  25. P. Adámek, M. Čada, Z. Hubička, L. Jastrabík, J. Adámek, J. Stöckel
    Diagnostics system for measurement of ion distribution function in low-temperature plasma and probe for diagnostics system
  26. O. Churpita, Z. Hubička, A. Dejneka, L. Jastrabík, V. Zablotskyy, E.Syková, Š. Kubinová
    Device for generation of low-temperature plasma with tunable density of ionized particles
  27. Z. Hubička, A. Dejneka, M. Čada, P. Adámek, L. Jastrabík, G. Suchaneck, J. Olejníček, Š. Kment, V. Straňák
    Plasma system developed for deposition of perovskite thin films
  28. P. Boháč, K. Cvrk, R. Čtvrtlík, V. Koula, Z. Hubička, M. Hrabovský, L. Jastrabík
    Equipment for resistance evaluation of layers and coatings using acoustic emission analysis of scratch test.
  29. M. Pech, D. Mandát, P. Schovánek, M. Palatka, J. Řídký, M. Hrabovský, P. Horváth
    Apparatus for analysis of night sky background light
  30. Z. Hubička, M. Čada, P. Kšírová, Jiří Šmíd, J. Olejníček, Š. Kment
    Linear diagnostic system of plasma deposition for large scale processes
  31. J. Holovský, Z. Remeš, A. Piják
    METHODOLOGY OF NOT DESTRUCTIVE DETERMINATION OF PHOSPHORUS CONCENTRATION PROFILE IN SI WAFERS
  32. J. Holovský, Z. Remeš, A. Piják
    METHODOLOGY OF NOT DESTRUCTIVE DETERMINATION OF BORON CONCENTRATION PROFILE IN SI WAFERS
  33. J. Šmíd, J. Olejníček, M. Čada, Š. Kment, V. Straňák, Z. Hubička, O. Babčenko, A. Kromka, Š. Potocký, P. Lukašík, A. Piják, J. Dolák, P. Martinek, J. Pitrun, Š. Rek, L. Konečný, G. Mareš, J. Štěpánek, J. Jakeš, Z. Křenek, M. Joštic
    Automatic system of mass flow control of working gasses in MW plasma system PLASMASTR02 with plasma jet channels.
  34. B. Rezek, L. Michalíková, A. Kromka, M. Kalbáčová, S. Kmoch, L. Grausová, L. Bačáková, M. Vaněček, J. Kočka
    Method of making arranged cell structures
  35. P. Šmíd, P. Horváth, M. Hrabovský
    Method of detection of speckle field movement and a device for implementation of this method
  36. P. Boháček, M. Nikl, B. Trunda, V. Studnička
    Anorganic scintillator based on strontium hafnate with surplus of Hf or strontium zirconate with Zr surplus.
  37. J. Wunderlich, B.-G. Park, A. Šik, T. Jungwirth, F. Máca
    Magnetoresistive device
  38. P. Boháček, M. Nikl
    Lead tungstate-based scintillator
  39. P. Boháček, M. Nikl
    Scintillator - lead-tungstate with a shifted stoichiometry
  40. J. Wunderlich, D. Williams, T. Jungwirth, A. Irvine, B. Gallagher
    Single-charge tunnelling device
  41. Z. Hubička, M. Čada, V. Straňák, J. Šmíd, L. Jastrabík, Š. Kment, A. Dejneka
    Hybrid plasmatic pulse system HIPIMS+MF for reactive sputtering of optical thin films for laboratory and research purposes
  42. D. Mandát, M. Pech, M. Palatka, P. Schovánek, M. Hrabovský
    Night sky clouds covering measuring devices
  43. D. Mandát, M. Pech, M. Palatka, P. Schovánek, M. Hrabovský
    Apparatus for analysis of night sky background light
  44. P. Vízdal, L. Kotačka, P. Tobiška, B. Rezek
    New technology for recording nanostructures
  45. J. Šmíd, Z. Hubička, V. Straňák, A. Churpita, M. Čada, L. Jastrabík, J. Olejníček, O. Babčenko, A. Kromka, Š. Potocký, P. Lukašík, A. Piják, J. Dolák, P. Martinek, J. Pitrun, Š. Rek, L. Konečný, G. Mareš, J. Štěpánek, J. Jakeš, Z. Křenek, M. Joštic
    Hybrid and modular microwave plasmatic deposition system with surface wave and arranged plasma jets PLASMASTR01
  46. M. Krátká, J. Libertínová, O. Rezek, A. Kromka, B. Rezek
    Nanocrystalline diamond biosensor
  47. M. Nikl, P. Boháček
    Inorganic scintillator
  48. P. Horváth, M. Hrabovský, P. Šmíd
    Device for non-contact detection and quantitative evaluation of the movement of a human eye or general physical objects
  49. B. Rezek, M.Vaněček, A. Kromka, Š. Potocký, J. Potměšil
    Method of fabricating nucleation layer for diamond growth.
  50. B. Rezek, E. Šípek, J. Stuchlík, J. Kočka
    Method of making isolated groups of microscopic silicon crystals